半导体特性分析系统

美国吉时利 KEITHLEY 4200-SCS半导体分析系统:

1．4200-SCP2型示波器提供通用示波器功能和时域测量，

2． 以补充脉冲发生器的时域输出功能

3． 该示波器能设置为自动测量和数据采集或配合执行传统示波器任务的独立GUI应用使用

4． 4200-SCP2示波器能够在时域（频率、上升/下降时间）和电压域（幅度、峰-峰值等）进行测量。

5． 并且能在整个捕获的波形或用光标选取的波形部分之内进行测量。