美国吉时利KEITHLEKE 2612型双通道系统源表仪:
主要特点及优点：
1． 接触检测功能确保了高速及准确的测量
2． 内置的测试脚本处理器(TSP™)提供非并行系统的自动化测试，将I-V测试的速度提高到同类产品的二到四倍
3． TSP-Link™主/从控制架构将多台2600数字源表无缝地整合成一个系统，将其作为一台独立的仪器进行编程和控制
4． Script Builder，可以轻松地创建功能强大的测试脚本，实现用户特定的测试功能
5． 软件，无需编程直接得到半导体I-V 特性曲线，易学易用
6． 业界最高的SMU机架密度特别适合自动化测试的应用
应用：
8． 1． 对多种器件进行I-V函数测试和特性分析，包括：
2． 分立的和无源的元器件
3． 双引脚–电阻、盘驱动器头、金属氧化物变阻器(MOV)、二极管、齐纳二极管、传感器、电容器、热敏电阻
4． 三引脚–双极型小信号晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)等
5． 并行测试–双引脚、三引脚元器件阵列
6． 简单集成电路–光学、驱动器、开关、传感器
7． 集成的器件-小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI)：
模拟IC
8． 射频集成电路(RFIC)
9． 应用定制的集成电路
10． 系统级芯片(SOC)器件
11． 光电器件如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、12。 显示器
13． 上述器件的研发和特性分析